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東莞市眾升儀器有限公司
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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
數(shù)字式四探針測試儀,半導體材料的電阻率測試儀簡介：
ST2258A型多功能數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方塊電阻（簡稱方阻），換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進行測量。
詳情介紹：
數(shù)字式四探針測試儀,半導體材料的電阻率測試儀特點：
本測試儀特贈設測試結(jié)果分類功能，*大分類10類
儀器所有參數(shù)設定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校功能；自動轉(zhuǎn)換量程；測試探頭采用高耐磨碳化鎢探針制成，故定位準確、游移率小、壽命長；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。
基本技術(shù)參數(shù)
1. 常規(guī)測量范圍、分辨率（量程可向上或下擴展1～2個數(shù)量級）
電 阻： 1.0×10-4 ～ 200.0×103 Ω, 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×103 Ω
電 阻 率： 1.0×10-4 ～ 200.0×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×103 Ω-cm
方塊電阻： 1.0×10-3 ～ 200.0×103 Ω/□ 分辨率1.0×10-3 ～ 0.1×103 Ω/□
2. 可測半導體材料尺寸
直 徑： 測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，其他方式不限.
長（或高）度： 測試臺直接測試方式 H≤160mm, 其他方式不限.
3. 量程劃分及誤差等級
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量程
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200.0
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20.00
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2.000
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200.0
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20.00
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2.000
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200.0
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kΩ-cm/□
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Ω-cm/□
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mΩ-cm/□
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基本誤差
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±2%FSB±4LSB
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±1.5%FSB±4LSB
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±0.5%FSB±2LSB
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±0.5%FSB
±4LSB
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也可擴展量程：
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量程
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20.00
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2.000
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200.0
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20.00
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2.000
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200.0
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20.00
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kΩ-cm/□
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Ω-cm/□
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mΩ-cm/□
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基本誤差
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±1.5%FSB±4LSB
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±0.5%FSB±2LSB
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±0.5%FSB±4LSB
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4) 工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W
5) 外形尺寸：W×H×L=20cm×7.5cm×18cm
凈 重：≤1kg
凈 重：≤1kg
